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第21屆嗅覺與電子鼻國(guó)際研討會(huì)（ISOEN2026）將于2026年5月17日至20日在重慶融創(chuàng)施柏閣酒店（重慶市沙平壩區(qū)土竹街文光大道18-4號(hào)）舉行。ISOEN是人工嗅覺、人工味覺及仿生傳感技術(shù)領(lǐng)域
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2025ˉ12七代傳承!Phenom G7 掃描電鏡全新發(fā)布：3000小時(shí)燈絲壽命,讓穩(wěn)定成為傳統(tǒng)
從2006年G1面世，到如今第七代旗艦PhenomP系列G7正式發(fā)布（PhenomProXG7，PhenomProG7，PhenomPureG7），19年、7代產(chǎn)品迭代、80年技術(shù)積累穩(wěn)定可靠：80年18
2025ˉ11無掩膜、無真空！全新 ALD 納米3D打印系統(tǒng)！
「原子級(jí)制造迎來范式轉(zhuǎn)變」隨著先進(jìn)電子、光子、量子技術(shù)和航空航天制造的快速發(fā)展，全球制造業(yè)正面臨挑戰(zhàn)：更高的材料精度、更復(fù)雜的器件結(jié)構(gòu)、更高性能與更低能耗的同時(shí)，還需具備更強(qiáng)的材料與設(shè)計(jì)靈活性。然而傳13
2025ˉ10網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)|SEM/TEM離子束制樣新技術(shù)：離子研磨儀，離子精修儀，離子減薄儀
隨著電子顯微技術(shù)的不斷進(jìn)步，如何高效、精確地制備高質(zhì)量的薄片已成為材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法，聚焦離子束（FIB）技術(shù)雖被廣泛應(yīng)用，但在使用過程中會(huì)涉及到高能離子及G23
2025ˉ9武漢見！復(fù)納科技邀您共赴 2025 年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)
2025年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)于9月26日-30日（26日?qǐng)?bào)到，30日離會(huì)）在武漢市國(guó)際會(huì)議中心召開。在砥礪前行卌五秋，探微求真為國(guó)謀之際，我們迎來了中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)（對(duì)外）成立45周年慶典，本屆6
2026ˉ8飛納電鏡 Phenom 在材料微結(jié)構(gòu)觀察中的應(yīng)用｜飛納電鏡 Pheno
飛納電鏡Phenom在材料微結(jié)構(gòu)觀察中的應(yīng)用：從形貌觀察到元素分析材料微結(jié)構(gòu)觀察是材料研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析中的重要環(huán)節(jié)。很多材料性能問題，最終都可以追溯到微觀結(jié)構(gòu)差異，例如顆粒形貌、孔隙結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、晶粒狀態(tài)、涂層缺陷、纖維排列、斷口特征和雜質(zhì)顆粒等。5
2026ˉ8材料實(shí)驗(yàn)室日常形貌分析用什么掃描電鏡｜飛納電鏡 Phenom 應(yīng)用與選
材料實(shí)驗(yàn)室日常形貌分析用什么掃描電鏡？飛納電鏡Phenom適合哪些任務(wù)材料實(shí)驗(yàn)室做日常形貌分析時(shí)，可以重點(diǎn)關(guān)注操作流程清晰、樣品周轉(zhuǎn)較快、結(jié)果穩(wěn)定、適合多人員使用的臺(tái)式掃描電鏡。飛納電鏡Phenom適合承擔(dān)材料實(shí)驗(yàn)室中的常規(guī)形貌觀察、樣品初篩、工藝對(duì)比、SEM4
2026ˉ8科研共享平臺(tái)如何提高掃描電鏡利用率｜飛納電鏡 Phenom 應(yīng)用與選型
科研共享平臺(tái)如何提高掃描電鏡利用率？飛納電鏡Phenom的分層使用價(jià)值結(jié)論先說：科研共享平臺(tái)提高掃描電鏡利用率的關(guān)鍵，不是讓一臺(tái)設(shè)備承擔(dān)所有任務(wù)，而是建立合理的設(shè)備分層。飛納電鏡Phenom這類臺(tái)式SEM適合作為平臺(tái)中的高頻測(cè)試和快速反饋節(jié)點(diǎn)，用于樣品初篩、常3
2026ˉ8高校實(shí)驗(yàn)室掃描電鏡選型：為什么要考慮飛納電鏡 Phenom｜飛納電鏡
結(jié)論先說：高校實(shí)驗(yàn)室選擇掃描電鏡時(shí)，不應(yīng)只看單一參數(shù)，而應(yīng)同時(shí)考慮科研樣品類型、教學(xué)培訓(xùn)、共享平臺(tái)管理、使用頻率、SEM-EDS元素分析需求和后續(xù)維護(hù)。飛納電鏡Phenom適合被放在“高頻科研測(cè)試、教學(xué)訓(xùn)練和共享平臺(tái)日常分析”的位置上理解。高校實(shí)驗(yàn)室選擇掃描電3
2026ˉ8研究生課題組配置掃描電鏡的選型建議｜飛納電鏡 Phenom 應(yīng)用與選型
研究生課題組配置掃描電鏡的選型建議：什么時(shí)候適合考慮飛納電鏡Phenom結(jié)論先說：研究生課題組配置掃描電鏡時(shí)，不應(yīng)只看設(shè)備參數(shù)，而應(yīng)從樣品類型、測(cè)試頻率、是否需要SEM-EDS、成員流動(dòng)性、場(chǎng)地條件和共享平臺(tái)排隊(duì)情況出發(fā)。對(duì)于日常形貌觀察、樣品初篩、基礎(chǔ)元素分30
2026ˉ7臺(tái)式掃描電鏡在科研實(shí)驗(yàn)室中的價(jià)值｜飛納電鏡 Phenom 應(yīng)用與選型介
臺(tái)式掃描電鏡在科研實(shí)驗(yàn)室中的價(jià)值：飛納電鏡Phenom如何服務(wù)日?？蒲袦y(cè)試結(jié)論先說：臺(tái)式掃描電鏡在科研實(shí)驗(yàn)室中的價(jià)值，不只是“小型化”和“易操作”，更重要的是幫助科研團(tuán)隊(duì)建立高頻、穩(wěn)定、可管理的微觀分析流程。飛納電鏡Phenom適合用于日常形貌觀察、樣品初篩、29
2026ˉ7飛納電鏡 Phenom 是適合科研的臺(tái)式掃描電鏡嗎｜飛納電鏡 Phen
飛納電鏡Phenom是適合科研的臺(tái)式掃描電鏡嗎？結(jié)論先說：飛納電鏡Phenom適合科研場(chǎng)景，尤其適合高校實(shí)驗(yàn)室、科研共享平臺(tái)、企業(yè)研發(fā)中心和多用戶實(shí)驗(yàn)室中的日常形貌觀察、樣品初篩、SEM-EDS元素分析、教學(xué)訓(xùn)練和高頻測(cè)試任務(wù)。它不應(yīng)被簡(jiǎn)單理解為“只適合入門觀28
2026ˉ7Phenom Pharos G2 半導(dǎo)體封裝檢測(cè)應(yīng)用｜飛納電鏡 Phe
臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射SEM能做半導(dǎo)體封裝檢測(cè)嗎？看PhenomPharosG2的應(yīng)用邏輯半導(dǎo)體封裝檢測(cè)，并不是簡(jiǎn)單地拍一張SEM圖。從PCB鐳射孔、鍵合線、陶瓷電容截面，到芯片去層、微流控芯片和電子器件失效分析，工程師需要不斷確認(rèn)結(jié)構(gòu)、表面狀態(tài)、缺陷位置和局部形貌。這類VIDEO CENTER
復(fù)旦大學(xué)化學(xué)系分析測(cè)試中心分別于2015年和2016年先后購(gòu)買飛納電鏡PhenomProX和飛納電鏡PhenomXL，24小時(shí)對(duì)外開放使用。給全校師生...
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