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全反射X熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
TXRF全反射X熒光光譜儀分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對(duì)比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級(jí)X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于...
AREX L 殘余奧氏體分析 參考價(jià)：面議
X 射線衍射法是測(cè)量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測(cè)量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據(jù) ASTM E975 的X射線測(cè)量近無(wú)規(guī)結(jié)晶取向鋼...
便攜式殘余應(yīng)力分析儀 參考價(jià)：面議
EDGE是一款便攜式殘余應(yīng)力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應(yīng)力分析檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
緊湊型X射線殘余應(yīng)力分析儀 參考價(jià)：面議
EDGE 緊湊型X射線殘余應(yīng)力分析儀是一款便攜式殘余應(yīng)力分析儀，符合 ASTM E915 及 EN 15305 殘余應(yīng)力分析檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
殘余應(yīng)力檢測(cè) 參考價(jià)：面議
STRESS-X殘余應(yīng)力檢測(cè)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)可封裝在密閉的艙體中用于實(shí)驗(yàn)室分析，也可安裝在四輪合金推車(chē)上用于現(xiàn)場(chǎng)分析，進(jìn)行移動(dòng)測(cè)量大型工件各個(gè)部位的殘余應(yīng)力。
巴克豪森應(yīng)力檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
MagStress5c 巴克豪森應(yīng)力檢測(cè)儀是GNR公司新近開(kāi)發(fā)的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的快速殘余應(yīng)力檢測(cè)儀，能夠?qū)﹁F磁性材料制成的部件或結(jié)構(gòu)上...
磨削燒傷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
MagStress5c 是GNR公司新近開(kāi)發(fā)的一款基于磁巴克豪森噪聲 (MBN) 原理的磨削燒傷檢測(cè)儀，能夠?qū)﹁F磁性材料制成的部件或結(jié)構(gòu)上存在的磨削燒傷狀態(tài)提供...
全反射X熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
全反射X熒光光譜儀分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對(duì)比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級(jí)X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）...
多功能X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
EXPLORER多功能X射線衍射儀在眾多分析領(lǐng)域都可發(fā)揮優(yōu)良的性能，例如可以測(cè)量混合物質(zhì)的相態(tài)；檢測(cè)微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等。其...
粉末X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
APD 2000 PRO 為定性和定量的粉末X射線衍射儀。電路控制反饋系統(tǒng)，X 射線發(fā)生器更加穩(wěn)定；預(yù)設(shè)高壓和激發(fā)電流，并可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)斜坡程度上升；細(xì)焦點(diǎn)的陶瓷X...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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