晶圓測試設備,XAD-μ-wafer能量色散X熒光光譜儀 多導毛細聚焦XRF是一款專用于超小測量點或極薄涂層的分析測量的儀器，在柔性電路板、芯片封裝環節、晶圓微...

晶圓測試設備是半導體制造過程中的關鍵設備之一，主要用于在晶圓級別對集成電路（IC）進行電性能測試和質量評估。隨著微電子技術的不斷進步，設備在晶圓尺寸、測試速度和...

高精度XRF元素分析儀利用X射線激發樣品中的原子，使其發射出特征熒光X射線。每種元素都有其特定的熒光X射線能量，這些特征X射線被探測器接收后，通過數據分析即可確...

能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動膜厚儀是一款專用于檢測各種異形件，各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點...

華南地區XRF元素分析儀E-max系列高精度XRF元素分析儀性能符合GB15618-2018《土壤環境質量農用地土壤污染風險管控標準》和GB3838-2002《...

XRF元素定量分析方法E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環境質量農用地土壤污染風險管控標準》和GB3838-2...

E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環境質量農用地土壤污染風險管控標準》和GB3838-2002《地表水環境質量...

便攜式X射線熒光重金屬分析儀E-max系列高精度便攜式X射線熒光元素檢測儀性能符合GB15618-2018《土壤環境質量農用地土壤污染風險管控標準》和GB383...

石油氯測試儀,便攜式油質分析儀、石油硫含量檢測儀:高性能專業探測器及微型數字信號多道處理器三大核心技術的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使便...