ECLIPSE MA200 LED 正置金相顯微鏡 Nikon / 日本尼康

正置金相顯微鏡 Nikon / 日本尼康 ECLIPSE MA200 LED

正置金相顯微鏡 Nikon / 日本尼康 ECLIPSE MA200 LED

### 1. 高精密光學成像系統

ECLIPSE MA200 LED 采用尼康專業級正置光路設計，配備高等級色差校正物鏡，可有效消除視野畸變、色差與雜光干擾，實現全域高清平整成像。畫面對比度高、細節還原真實，能夠清晰呈現材料金相組織結構、表面微裂紋、研磨紋路、微小雜質、鍍層結構等微觀特征。光路抗反射能力強，針對拋光金屬、鍍膜基材、半導體晶片等高反光樣品，可有效抑制眩光，保證觀測畫面干凈通透，滿足微觀檢測與金相分析的精度要求。

### 2. 多模式觀測與 LED 長效照明

設備搭載節能長效 LED 冷光源，色溫恒定、亮度均勻，光源壽命大幅提升，發熱量低，可支持長時間連續檢測作業，降低設備維護成本。機身集成多種觀測模式，包含明場、暗場、偏光、微分干涉等功能。微分干涉模式可呈現樣品表面微小凹凸立體形貌，適合平面度、劃痕、微觀臺階檢測；偏光模式可分析材料晶體結構與應力分布，多模式自由切換，可適配不同材質、不同缺陷類型的檢測需求，適配范圍廣、檢測維度全面。

### 3. 精密機身結構與全場景拓展能力

整機采用高剛性工業機身架構，調焦機構精準穩定，定位重復性高，長期高頻使用不易出現精度漂移與機械松動。設備采用模塊化設計，可自由搭配各類物鏡、目鏡、照明組件與成像配件。支持三目光路輸出，可外接高清工業相機與圖像分析軟件，實現實時觀測、高清拍照、數據存檔、尺寸測量與缺陷統計，可形成標準化檢測流程。設備綜合性能穩定可靠，廣泛應用于精密電子元器件檢測、金屬金相分析、半導體材料檢測、模具剖面觀測、科研實驗分析等工業與科研場景。