蝕光 Ci-POL Nikon / 日本尼康 緊湊型專業偏光顯微鏡

Nikon / 日本尼康 緊湊型專業偏光顯微鏡 蝕光 Ci-POL

Nikon / 日本尼康 緊湊型專業偏光顯微鏡 蝕光 Ci-POL

### 1. CFI60 專業無應力偏光光學系統

蝕光 Ci-POL 搭載尼康成熟 CFI60 無限遠光學架構，整套光學元件經過消應力處理，從根源規避鏡片內部應力產生的虛假干涉色，保障偏光觀測數據真實可靠。配套專用 CFI-POL 消色差物鏡，色差與畸變校正水平優異，全域視野亮度均勻通透，有效抑制雜光干擾。設備成像對比度表現突出，能夠清晰呈現晶體取向、高分子結晶紋理、薄膜應力紋路、礦物解理構造等微觀特征，精準識別微弱雙折射信號。五孔物鏡轉換器全部支持獨立中心校準，更換物鏡無需反復調試光路，長期連續觀測保持精度穩定，滿足定性觀測與基礎定量偏光分析標準。

### 2. 標準化偏光觀測體系與靈活配件拓展

設備中間鏡筒內置可聚焦貝特朗透鏡，可自由切入、切出光路，兼顧正交偏光樣品形貌觀察與錐光干涉圖捕捉，完整覆蓋偏光顯微核心觀測方式。檢偏器支持 360° 旋轉并配備精密游標刻度，可精準調節偏振角度；鏡筒預留 DIN 標準補償器插槽，可選配 1/4λ 試片、石英楔、塞拿蒙補償器，開展相位延遲量、消光角等定量測量。主機基礎配置透射照明系統，可外接反射照明組件升級透反射兩用模式，兼顧透明薄片與不透明晶體樣品檢測。整機配備內置 ND 濾光片，靈活調節光照強度，適配不同透光率樣品，保障成像畫面穩定統一。

### 3. 緊湊型人體工學機身與多場景適配能力

整機采用 Slim 輕量化緊湊機身設計，占用工作臺空間更小，適配常規實驗室、質檢工位有限的擺放條件。同軸粗微調焦機構行程充足，微調刻度增量可達 1μm，并配備對焦上限位防撞機構，更換樣品時避免物鏡與樣品碰撞，保護光學組件。360° 帶分度刻度旋轉載物臺旋轉阻尼均勻，支持卡位鎖定，方便精確測量樣品消光方位。支持雙目、三目鏡筒選配，機身前置圖像拍攝快捷鍵，外接工業相機即可實現實時觀測、圖像采集與數據存檔。綜合通用性強，廣泛應用于高分子材料應力分析、巖石礦物鑒定、液晶薄膜觀測、玻璃制品內應力檢測、新材料基礎科研與教學實驗領域。